【行业背景】
在第五代移动通信与AIoT技术驱动下，高密度集成电路板的热流密度已突破100W/cm²量级。据IPC-2152标准显示，每10℃温升将导致电子元件失效率呈指数级增长，这使得热可靠性设计成为高端电子制造的核心挑战。

【技术痛点解析】
某国家级专精特新企业在开发5G基站核心板时遭遇三重技术壁垒：

1. 热梯度管控难题：400×300mm板面需控制ΔT≤5℃（MIL-STD-810H标准）

2. 微观缺陷定位：需检测0.25mm BGA焊点中的5μm级虚焊缺陷

3. 瞬态热响应监测：要求μs级时间分辨率捕捉功率器件热冲击

【创新解决方案】
采用高德智感PT850热像仪系统（配置3X微距光学组件），构建多维热诊断方案：

【典型应用场景】

1. 热分布优化：通过伪彩色映射技术，量化PCIe金手指区域3.2℃温差，优化铜箔厚度分布

2. 缺陷定位：在0.8mm间距QFN封装中，准确定位两处μ级焊接空洞（如图1所示）

3. 可靠性验证：持续监测1000次热循环后，MOSFET结温漂移≤±1.5%，符合AEC-Q104标准

【技术突破】
PT850搭载的InSb焦平面探测器实现：

• 1024×768像素下55Hz全幅帧频

• -20~1500℃宽域测温（±1%精度）

• 3D热场重建功能，支持与CAD模型比对

【客户价值】
该方案使客户：

• 研发周期缩短40%（从12周降至7周）

• 量产良率提升至99.98%（CPK≥1.67）

• 通过Telcordia SR-332三级认证

【专家点评】
"在μ级热诊断领域，PT850的12μm空间分辨率重新定义了行业基准。其热-力耦合分析模块为我们的有限元仿真提供了关键边界条件。"——某院士级热管理实验室负责人

【延伸应用】
该方案已拓展至：

• 晶圆级封装热应力检测

• 动力电池SEI膜生长监测

• 光模块TO-CAN组件热特性分析

高德智感持续深耕智能感知领域，为高端制造提供原子级热诊断方案，推动中国智造向精密化、可靠性方向演进。

本文标签： # 高德PT850手持工业超高温测温红外热像仪